導(dǎo)波雷達(dá)料位計(jì)的技術(shù)優(yōu)勢：雷達(dá)料位計(jì)對液體、顆粒及漿料連續(xù)物位測量。測量不受介質(zhì)變化、溫度變化、惰性氣體及蒸汽、粉塵、泡沫等的影響。雷達(dá)料位計(jì)的精度為5mm，量程60米，耐250度高溫、40公斤高壓，雷達(dá)料位計(jì)適用于爆炸危險區(qū)域

更新時間：2024-09-27

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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

桿式導(dǎo)波雷達(dá)液位計(jì)TKWL--1302的技術(shù)參數(shù)如下：

精度液體：量程小于15m時，±5mm；量程大于15時，測量值5mm±0.05%

固體：20mm±0.05%

溫度飄移 0.01%/℃

重復(fù)性 2mm

介質(zhì)溫度 -50～250℃

法蘭溫度 -30～200℃/-30～150℃防爆型

環(huán)境溫度 -30～60℃/-30～55℃防爆型

耐壓 40bar

表頭顯示 LCD可選

標(biāo)準(zhǔn)輸出 4～20mA/HART

故障診斷輸出 22mA

供電 18～35VDC/ 小于28VDC防爆型

外殼材料鑄鋁還氧涂層

防護(hù)等級 NEMA(IP65)

防爆 ATEX II 1G 或II 1/2 D T 100℃ EEX ia II C T6...T3或EEX ia II B T6...T3

重量 2Kg(無探頭)

4技術(shù)優(yōu)勢

導(dǎo)波雷達(dá)料位計(jì)的技術(shù)優(yōu)勢：雷達(dá)料位計(jì)對液體、顆粒及漿料連續(xù)物位測量。測量不受介質(zhì)變化、溫度變化、惰性氣體及蒸汽、粉塵、泡沫等的影響。雷達(dá)料位計(jì)的精度為5mm，量程60米，耐250度高溫、40公斤高壓，雷達(dá)料位計(jì)適用于爆炸危險區(qū)域。

5測量原理

導(dǎo)波雷達(dá)料位計(jì)是依據(jù)時域反射原理(TDR)為基礎(chǔ)的雷達(dá)料位計(jì)，雷達(dá)料位計(jì)的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播，當(dāng)遇到被測介質(zhì)表面時，雷達(dá)料位計(jì)的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路經(jīng)返回到脈沖發(fā)射裝置，發(fā)射裝置與被測介質(zhì)表面的距離同脈沖在其間的傳播時間成正比，經(jīng)計(jì)算得出液位高度。

6安裝注意事項(xiàng)

雷達(dá)料位計(jì)對于安裝空間有一定的要求
注意介質(zhì)的介電常數(shù)，并依據(jù)介電常數(shù)的大小選擇適合的型號

7測量原理和主要技術(shù)因素

雷達(dá)料位計(jì)是利用回波測距原理。發(fā)射天線向被測目標(biāo)發(fā)射微波被測目標(biāo)的微波被接收天線接收，信號處理器將發(fā)射信號與接收信號比較計(jì)算出被測距離并可算出相應(yīng)的物位值。

微波脈沖來回傳播時間t由下式?jīng)Q定:

t=2a/c

式中a一天線到被測目標(biāo)的距離

c一微波傳播的速度(光速)

由于微波在傳播途徑上有衰減和干擾反射，故測量的關(guān)鍵是要能接收到反射回波，并識別出有效回波。接收的回波能量

Pk可用簡化的雷達(dá)方程表示如下:

Pk=Pt x C x GiGtGr/r4 (2)

式中:Pt:天線輻射功率

C經(jīng)驗(yàn)系數(shù)由經(jīng)驗(yàn)決定

Gi由目標(biāo)表面介電特性及面積決定的反射增益

Gt. Gr天線發(fā)射和接收效率

r天線與目標(biāo)間的距離

從式(2)知:接收的回波能量大小與天線的發(fā)射和接收效率以及天線輻射功率有關(guān)故雷達(dá)料位計(jì)的天線設(shè)計(jì)和形狀很關(guān)鍵關(guān)鍵，現(xiàn)有的天線除號角天線《喇叭口)和棒狀天線外，還有平面天線和拋物面天線，為用于介電常數(shù)較小的物料，將纜繩作為天線或安裝導(dǎo)波管纜繩和導(dǎo)波管一直延伸到庫或倉底由此來傳遞發(fā)送和接收的電磁波增強(qiáng)了回波的信號。

從式《2)還知:接收的回波能量大小與物料表面的介電特性有關(guān)，介電常數(shù)。高，反射率高，得到的回波強(qiáng)度也高:介電常數(shù)。低物料會吸收部分微波的能量回波強(qiáng)度也較低。通常要求被測物料的介電常數(shù)。:液體為ε>1.8.固體ε>2.5，水泥廠固體ε>2.5水泥的介電常數(shù)ε為30